미세한 크랙 및 결함 찾아내는 ‘PVS-5000’
  • SolarToday
  • 승인 2013.08.29 09:39
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PVS-5000은 미세한 크랙과 웨이퍼의 가장자리 영역, 표면의 오염도와 결함을 파악하는데 사용되며, 2D 이미지 제공까지 가능하다. 절삭 후 남은 흔적도 찾아내며, 웨이퍼의 저항값과 수명을 진단하는 작업도 원활하게 수행한다.

 

세미랩코리아가 제공하는 장비의 대부분은 유연하면서, 간단한 핸드 헬드 장치와 고해상도 매핑 기능 테이블 탑 시스템, 미드레인지 및 하이레벨 사용자들을 위해 자동화 된 독립 실행형 생산 관리 도구에 이르는 다양한 플랫폼을 자랑한다.

 

세미랩은 솔라 셀 생산라인을 위한 인라인 측정도 제공하고 있으며, 이들 제품은 비접촉, 비파괴 기능을 기본적으로 탑재하고 있다.

 


SOLAR TODAY 편집국 (st@infothe.com)

 

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