내쇼날인스트루먼트는 새로운 PPMU(Per-pin Parametric Measurement Unit) 모듈과 소스 측정 유닛(SMU) 모듈의 출시를 통해 반도체 특성화 및 생산 테스트를 위한 PXI 플랫폼의 기능을 확장했다. NI PXIe-6556 200MHz 고속 디지털 I/O(PPMU)와 NI PXIe-4140 및 NI PXIe-4141 4채널 SMU는 장비 투자 비용과 테스트 시간은 줄이고 테스트 중인 여러 디바이스에 대한 혼합 신호 측정 유연성은 증가시켰다.
NI PXIe-6556 고속 디지털 I/O 모듈을 이용하면 최고 200MHz로 디지털 웨이브폼을 생성하고 수집할 수 있거나, 1%의 정확도로 동일한 핀에서 DC 파라미터 측정을 수행해, 케이블 연결을 단순화하고 테스트 시간은 줄이며 테스트 장비의 밀도는 높여준다. 또한 테스트 중인 디바이스와 연결되는 케이블과 트레이스 길이가 다르기 때문에 발생하는 문제를 해결할 수 있는데, 그 방법은 타이밍을 자동으로 조정하는 내장된 타이밍 교정 기능을 이용해 타이밍 스큐를 거의 제거하는 것이다. NI PXIe-6556은 보다 높은 정밀도를 위한 스위치 모듈 옵션을 제공하기 때문에 하드웨어 또는 소프트웨어 트리거를 기반으로 파라미터 측정을 트리거링할 수 있다.
NI PXIe-4140/41 SMU 모듈은 PXI Express 슬롯당 4개의 SMU 채널과 4U 랙 높이의 PXI 섀시당 최고 68개의 SMU 채널을 제공해 많은 핀이 있는 디바이스의 테스트를 간소화한다. 엔지니어들은 초당 60만개 샘플의 샘플링 속도를 이용해 측정 시간을 획기적으로 줄이거나 디바이스의 중요한 Transient 특성을 캡처할 수 있다. 또한 NI PXIe-4141에는 주어진 로드에 대한 SMU 출력 응답을 직접 조율하는데 사용할 수 있는 차세대 SourceAdapt 기술이 있어 최대 안정성과 최소의 Transient 시간을 구현할 수 있다. 기존 아날로그 SMU 기술로는 이 기능을 구현할 수 없다.
NI LabVIEW 시스템 디자인 소프트웨어를 새로운 PPMU 및 SMU 모듈에 사용하면 반도체 테스트에 모듈형 소프트웨어 정의 방식을 적용해 품질은 높이고, 비용은 낮추며, 검증, 특성화 및 생산 전반의 테스트 시간은 줄여준다. LabVIEW는 프로그래밍 언어의 유연성과 고급 엔지니어링 툴의 기능을 결합했기 때문에 엔지니어 고유의 요구사항들을 충족시킬 수 있다.
