한국내쇼날인스트루먼트(이하 한국NI)는 6월 1일 서울 코엑스에서 ‘최신 반도체 개발 및 양산을 위한 통합 테스트 시스템 개발’을 주제로 반도체 개발 및 테스트 엔지니어를 위한 컨퍼런스를 개최한다.

PXI 자동화 테스트 컨퍼런스는 지난 40년간 자동화 테스트 분야의 선도 기업으로 자리매김해온 NI가 해당 분야의 최신 기술 트렌드를 제시하고 고객과 상호 네크워킹하기 위한 취지로 준비해 앞으로 매년 개최될 예정이다.

올해 처음 개최하는 2011년 컨퍼런스에서는 반도체 기능의 다양화로 인한 테스트 항목 및 비용 절감 문제 등 반도체 개발 및 테스트 엔지니어가 당면한 현안을 짚어보고, 반도체 개발 및 양산 단계에서 진행해야 할 다양한 테스트 항목과 반도체 통합 자동화 테스트를 위한 PXI기반의 자동화 테스트 시스템 개발 기법을 소개한다.

특히, 지난 4월 NI와 텍트로닉스가 공동 개발한 PXI 디지타이저 신제품을 소개하고 현장에서 데모를 통해 확인해 볼 수 있는 세션을 마련했으며, ‘텍스트로닉스의 오실로스코프 기술과 NI PXI 플랫폼의 통합’을 주제로 한국텍트로닉스 담당자가 직접 세션을 맡아 발표할 예정이다. 뿐만 아니라 한국NI에서 반도체, RF 등 자동화 테스트를 전담하는 최고의 엔지니어들이 총출동해 세미나를 진행한다.

또한 현 한국 비파괴학회 학술분과 위원이자 IRWAVE의 주훈 대표가 특별 연사로 초청돼, 최근 이슈화가 되고 있는 열화상을 이용한 비파괴 전자 부품 성능 검사법을 소개할 예정이다. 이 외에도 NFC 무선 프로토콜 테스트 세션과 모바일 칩셋 테스트를 위한 최신 기술 발표 역시 눈여겨 볼만하다. 

컨퍼런스 등록은 ni.com/korea/events를 방문해 자세히 확인할 수 있다.

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