NI(www.ni.com)의 벡터 네트워크 분석기(VNA)는 빠른 자동화 측정, 기능이 풍부한 인스트루먼트 아키텍처 및 간단해진 테스트 시스템 개발을 통해 제조업체들의 테스트 비용 절감을 가져온다. 새로운 NI PXI Express 모듈은 고급 VNA 측정 기능을 통합해 정밀 DC, 고속 아날로그 및 디지털 측정 및 기타를 통합한 PXI 기반 테스트 시스템을 완성했다.

내쇼날인스트루먼트는 계속해서 복잡해지고 있는 RF 테스트 요구사항을 기존 박스형 계측 솔루션의 비용, 크기 및 개발 시간 일부만으로 해결할 수 있도록 최적화된 NI PXIe-5632 VNA를 출시한다고 발표했다. 이 새로운 PXIe VNA는 주파수 범위가 300kHz~8.5GHz에 이르는 혁신적인 듀얼 소스 아키텍처에 구축됐고, 독립적으로 소스 조정이 가능하며, 소스 액세스 루프를 통해 다양한 세트의 측정 애플리케이션을 처리할 수 있다.

이 제품의 특징으로는 ▲2개 포트, 3x슬롯 PXI Express VNA(300kHz~8.5GHz 주파수 범위) ▲0.01dB 스텝에서 설정 가능한 -30~15dB의 넓은 전력 범위로 응압 및 활성 디바이스의 S-파라미터 측정 ▲펄스 S-파라미터 측정을 위한 소스 액세스 루프와 확장된 소스 전력 범위를 갖춘 듀얼 소스 아키텍처 ▲독립적으로 조정된 소스를 이용한 주파수 오프셋 기능을 통해 주파수 변환 디바이스와 핫 S-파라미터 측정 ▲NI LabVIEW, ANSI C 및 .NET용 프로그래밍 가능한 인터페이스로 간단한 프로 그래밍과 빠른 테스트 개발 시간 및 RF 측정 품질 유지 등이다.