[인더스트리뉴스 최정훈 기자] 트윔(대표 정한섭)이 AI 딥러닝 비전검사 관련 특허 2건을 취득하며, 사용자 편의성을 한층 보강했다.

딥러닝은 충분한 양의 데이터 학습이 바탕이 돼야 원하는 검출 성능을 발휘할 수 있다. 하지만 현재 제조공정에서는 필요한 불량 데이터를 짧은 시간에 얻기 힘든 실정이다. 

이 가운데 상당한 양의 불량 데이터 없이도 불량 검출율을 높일 수 있는 기술이 나와 이목을 집중시키고 있다.

최근 AI 검사설비 전문기업 트윔이 제조공정에서 제품의 외관 불량을 검출해 내는 AI 딥러닝 비전 검사에 특화된 ‘제품 검사를 위한 학습 데이터 생성 방법 및 검사 장치’, ‘자기지도 학습에 기반한 제품 검사 방법 및 장치’로 국내 기술 특허 2건을 취득했다고 밝혔다. 

첫 번째 특허는 불량 데이터가 부족한 상황에서 확보한 불량 데이터만으로도 학습 데이터를 추가적으로 생성하는 데이터 증강(Data Augmentation) 관련 기술이다. 이는 제품의 불량이 발생하는 위치와 형태를 고려해 제한된 학습 데이터만으로도 딥러닝 알고리즘 학습에 필요한 학습 데이터를 만들 수 있다는 이점이 있다.

두 번째 특허는 많은 데이터 중에서 자기지도학습과 이상탐지 기술을 이용해 학습에 도움이 되는 데이터만을 사용함으로써 딥러닝 모델의 성능을 높일 수 있는 방법이다. 이 기술로 작업자가 모든 학습 데이터를 레이블링 작업을 할 경우 유발될 수 있는 개인별 데이터 편향성 문제를 줄일 수 있으며, 적은 비용으로 손쉽게 고성능의 딥러닝 모델을 생성 가능하다.

트윔의 기업부설연구소장인 김재현 전무는 “고객사와 개발자 입장에서 AI 딥러닝 비전검사를 할 때마다 고민해 왔던 부분을 기술적으로 해결하게 됐다”며, “이번 특허 기술이 고객사의 불량 데이터 제공에 대한 부담을 덜어 AI 비전검사 설비 도입을 가속화 할 것”이라고 말했다.

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