[포토] 나노시스템, 나노미터 표면형상분석 가능한 NVH-6070
  • 전시현 기자
  • 승인 2018.04.24 21:04
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나노시스템(대표 이형석)은 미세형상 측정과 검사에 대한 솔루션을 제공하는 기업이다. 2018 국제 모션컨트롤 및 머신비전 산업전에서 NVH-6070을 내놨다. NVH-6070은 나노미터 표면형상분석이 가능한 WSI 모듈과 고해상도 2D 광학 모듈을 이용해 PCB, FPCB, Film, FPD의 Pattern을 고정밀도, 고속으로 측정할 수 있다.

[인더스트리뉴스 전시현 기자] 나노시스템(대표 이형석)은 미세형상 측정과 검사에 대한 솔루션을 제공하는 기업이다. 2018 국제 모션컨트롤 및 머신비전 산업전에서 NVH-6070을 내놨다. NVH-6070은 나노미터 표면형상분석이 가능한 WSI 모듈과 고해상도 2D 광학 모듈을 이용해 PCB, FPCB, Film, FPD의 Pattern을 고정밀도, 고속으로 측정할 수 있다.



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