TI의 고전압 전원 솔루션 사업부 스티브 램부스(Steve Lambouses) 부사장은 “300만 시간 이상의 신뢰성 테스트를 거친 LMG3410은 전력 설계자들에게 GaN의 신뢰성에 확신을 줄 수 있으며, 이전에 생각할 수 없었던 방식의 전력 아키텍처 및 시스템 설계의 발판이 마련될 것”이라면서, “TI의 널리 알려진 제조 역량과 축적된 파워 시스템 설계 전문성을 바탕으로 한 이 새로운 전력 스테이지 솔루션은 GaN 시장에서의 중요한 진전”이라고 덧붙였다.
LMG3410은 내장된 드라이버와 제로 리버스 리커버리 전류 구현과 같은 특성 구현을 통해, 스위칭 손실을 최대 80%까지 크게 절감할 수 있어 하드 스위칭 애플리케이션에서 신뢰할 만한 성능을 제공한다. 독립형 GaN FET과 달리 사용하기 쉬운 LMG3410은 온도, 전류 및 UVLO(Under Voltage Lock Out)와 같은 보호기능이 내장돼 있는 기능형 디바이스다.
LMG3410은 TI 최초로 GaN FET을 사용한 반도체 IC다. TI는 제조 및 공정 기술에 있어서 수십 년 동안 축적된 기술을 바탕으로 GaN 디바이스를 제조하고 까다롭게 요구되는 분야에도 사용할 수 있도록 GaN의 신뢰성 및 견고성에 대한 확신을 주기 위해 JEDEC 표준 이상 수준의 품질을 확보하여 제공한다. 또한 사용하기 쉬운 패키징 제공으로 PFC(power fact or controller) AC/DC 컨버터, 고전압 DC 버스 컨버터 및 광전지(PV) 인버터와 같은 애플리케이션에서의 GaN 전원 설계 도입을 증가시킬 예정이다.
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