CT5100은 에머슨 CT5000 시리즈의 최신 작품으로, 다양한 성분의 서브 ppm 레벨까지 감지하며 가장 포괄적인 분석을 제공하는 동시에 운영을 단순화하고 비용을 크게 감소할 수 있다. 전통적인 연속 가스 분석기와는 다르게, CT5100은 단일 시스템에서 최대 12개까지의 주요 가스 성분과 잠재적인 오염 성분을 측정할 수 있어 지역, 주, 국가 및 국제 규제 요구사항을 만족할 수 있다.
CT5100은 소모성 부품과 필드 인클로저가 없고 수분 제거를 위한 가스 컨디셔닝이 필요하지 않는 단순한 샘플링 시스템으로 안정적인 운영을 보장한다. 새로운 가스 분석기는 프로세스 가스 분석, 연속 배출 모니터링 및 암모니아 슬립 애플리케이션에 적절하다고 할 수 있다.
에머슨의 루스 린들리(Ruth Lindley) 제품 매니저는 “전 세계 규제 요구사항의 증가뿐만 아니라 산업 플랜트 내 경험 많은 직원의 감소는 더욱 빠르고, 정확하고, 사용하기 쉬운 차세대 측정 기술의 출현으로 이어졌다”면서, “CT5100은 타의 추종을 불허하는 초 단위 미만의 반응 시간으로 복잡한 가스 및 배출의 정확하고 신뢰할 수 있는 측정을 제공해 규제 준수를 보장하고 많은 비용이 드는 벌금이나 예상치 못한 가동중단을 예방하는 것으로 이 방면의 중요한 다음 단계를 대표하고 있다”고 말했다.
CT5100은 최신 기술과 높은 신뢰성, 그리고 견고한 디자인의 고유한 조합이라고 할 수 있다. ‘레이저 처프(Laser Chirp)’ 기술은 근적외선 및 중적외선 범위 내의 가스에 대한 분석을 확장하며 프로세스 통찰력을 향상하고, 전반적인 가스 분석 민감도 및 선택도를 개선하고, 교차 간섭을 제거하고, 반응 시간을 줄일 수 있다. 또한, 레이저 처핑 기술은 최소한의 간섭과 여과, 기준 셀, 또는 화학계기 조작 없이 식별된 성분의 특이성을 분석하는 고해상도 분광학을 통해 예리하고 명확한 피크를 생성한다.
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