KAIST, 리튬이차전지 음극 전자전도도 퇴화 나노스케일에서 영상화 성공
  • 이건오 기자
  • 승인 2022.11.09 17:36
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이차전지 실리콘 기반 복합 음극 고도화 기대… 왜곡 신호 제거 전자전도도 영상화

[인더스트리뉴스 이건오 기자] 고에너지 밀도를 갖는 리튬이차전지 개발에 대한 수요가 폭발적으로 증가하면서 실리콘 기반 음극 개발에 관한 연구가 활발히 이뤄지고 있다. 실리콘 활물질은 기존 음극 활물질인 흑연 대비 높은 용량 값(4,200mAh/g)을 갖고 있어 고에너지 밀도를 가지는 리튬이차전지용 음극의 유력한 후보로 자리 잡고 있다.

사진 왼쪽부터 KAIST 신소재공학과 박건 박사과정, 홍승범 교수 [사진=카이스트]

하지만 충전 및 방전 간 400%에 달하는 높은 부피 팽창·수축률이 실리콘 활물질의 상업화를 방해하고 있다. 실리콘 기반 음극의 급격한 부피 변화는 특히 전극 내 전자 전달 시스템에 큰 악영향을 미치고 있으며, 이를 보완하기 위해 다양한 도전재 시스템을 적용하는 연구가 활발히 진행 중이다.

전극 내 전자 전도 채널의 확보는 활물질 내 균등한 전기화학 반응을 유발하기 위해 필수적이지만, 이를 나노스케일 공간 분해능을 갖고 영상화하는 방법론에 관해서는 많은 연구가 진행되지 않은 실정이다.

KAIST(총장 이광형)는 신소재공학과 홍승범 교수 연구팀이 LG에너지솔루션과 협업해 나노스케일 분해능으로 전극 내 전자 전도 채널을 왜곡 신호 없이 정량적으로 추출하는 방법론을 개발하는 데 성공했다고 11월 8일 밝혔다.

SiO/graphite 음극 위에서 C-AFM 운용시 스캔 방향에 따른 이미지의 이질성. (a,b,c) 왼쪽에서 오른쪽, (d,e,f) 오른쪽에서 왼쪽. (g,h,i) 피어슨 상관관계 분석을 통한 왜곡 신호 추출. (j) 왜곡 신호인 용량성 전류의 원인을 설명하는 도식 [자료=카이스트]

연구팀은 전극 소재와 같이 표면 거칠기가 큰 시료에서 전도성 원자간력현미경(C-AFM, Conductive Atomic Force Microscopy) 운용 시 발생하는 왜곡 정보인 용량성 전류(Capacitive Current)의 원인을 규명하고, 피어슨 상관 분석 방법을 기반으로 해당 왜곡 정보를 제거했다.

이 방법론을 실리콘·흑연 기반 복합 음극에 적용해 도전재 성분에 따른 전자 전도 채널 영상화를 실시했으며, 이를 통해 단일벽 탄소나노튜브(SWNCT, Signle-Walled Carbon Nano Tube)가 적용된 전극의 전기적, 전기화학적 우수성을 입증하는 데 성공했다.

연구팀은 이번 연구를 통해 실리콘 기반 전극과 같이 활물질의 부피 변화가 큰 시스템에서는 기존의 점형 도전재 대비 선형의 구조적 장점을 갖고 있는 SWCNT가 안정적인 전자 전도 채널을 확보하는 데 유리함을 보였다. 또한 SWCNT가 포함된 복합 전극의 경우, 130 사이클 이후에도 활물질의 분쇄가 보다 억제됐음을 보여주며, 전자 전도 채널의 불균일성이 활물질의 구조적 안정성에도 영향을 미칠 수 있음을 가설을 들어 설명했다.

도전재 종류에 따른 130 사이클 전, 후 C-AFM 결과 비교 [자료=카이스트]

제1저자인 KAIST 신소재공학과 박건 박사과정은 “전자 전도 채널 불균일이 유발한 전극의 전기화학 특성 퇴화라는 주제로 후속 연구를 진행 중”이라며, “나노스케일 영상화를 기반으로 지금껏 관찰하지 못했던 현상을 탐구할 수 있어 즐겁다”고 말했다.

교신저자인 홍승범 교수는 “왜곡 신호의 원인을 규명하고 이를 정량적으로 제거하는 연구는 영상화 분야에서 매우 중요하다”며, “이번에 개발한 방법론이 전극 내 전자 전도 채널을 강화하는데 적용돼 실리콘 기반 복합 음극의 고도화를 앞당기는 데 도움이 되면 좋겠다”고 말했다.

 

 


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