키스 R. 매킨토시(Keith R. McIntosh)·제임스 N. 코셀(James N. Cotsell)·제프 S. 컴스톤(Jeff S. Cumpston) 호주국립대학교(ANU) 지속가능한 에너지 시스템을 위한 센터(CSES)

앤 W. 노리스(Ann W. Norris)·닉 E. 포웰(Nick E. Powell)·배리 M. 케톨라(Barry M. Ketola)·라클런 블랙(Lachlan Black)·웨스톤 툴로크(Weston Tulloch) 다우코닝 코퍼레이션

태양전지 모듈은 20~30년의 운영 및 환경 노출이 성능에 미칠 영향을 예측하기 위한 가속열화시험을 실시한다. 또한 가속시험은 IEC 61215, UL 1703 및 IEEE 1262 표준(1-3) 등에서 규정하고 있는 모듈의 적격성을 평가하는 데도 사용된다.

모듈의 가속시험이 실패할 수 있는 한 가지 경로는 봉지재의 광학적 투과를 크게 감소시키는 경우이다. 투과 감소를 일으킬 가능성이 가장 많은 테스트 중에는 봉지재의 화학적 조성을 바꿀 수 있는 자외선 및 내습내열성 시험에 대한 노출이 포함된다.

자외선 노출에 대해서는, 1990년대 말까지 자외선을 가했을 때 가장 흔한 봉지재인 에틸렌 비닐 아세테이트(EVA)가 황변 및 갈변하는 경향이 있었다(4). 그 이후로는 개선된 항산화제 및 자외선 흡수제가 황변 속도를 크게 감소시켰으며, 자외선 흡수 유리(세륨(Ce)을 도핑한 유리 등)가 황변 속도를 더욱 늦췄다(4), (5), (12). 또한 EVA는 자외선에 노출될 때 접착력을 잃었다(6). 오늘날의 모듈은 자외선 노출 테스트를 합격하지만 첫째, 광학적 투과는 여전히 감소할 가능성이 있으며, 둘째, 표준시험이 바람직한 20~30년보다 훨씬 짧은 6개월 미만의 AM1-5g 스펙트럼 노출만을 반영하고 있음은(6) 주목할 만하다.

고온 고습에 노출될 경우에도 봉지재의 광학적 투과가 감소할 수 있다. 이와 같은 열화는 EVA 및 실리콘에 대해서도 관찰되며 그 원인이 물분자의 흡수 증가로 인한 것인지 산란 증가로 인한 것인지는 연구된 바 없으나 이것은 500nm 미만의 파장에서 가장 현저하게 나타난다(8). 또한 EVA는 수증기와 반응해 아세트산을 생성하는데 이 아세트산은 특히 모듈에 비투과성 백시트가 있을 경우(7) (직접적으로 또는 촉매로서) 모듈의 부식을 촉진한다.

본 기사에서는 다음 세가지 조건에 노출된 전후 측정한 EVA 및 세 가지 실리콘의 광흡수계수 a(l)(Beer의 법칙에 따라)를 제시한다. 첫 번째, 자외선 280~320nm 사이에서 5.6kWh/㎡, 두 번째, 85°C, 상대습도 85%에서 1,200시간 및 세 번째, 30배 선형 추적기의 집광점에 6개월 노출이다.

첫 번째 노출은 280~385nm의 파장에서는 최소한 15kWh/㎡, 280~320nm의 파장에서는 최소한 5kWh/㎡에 모듈을 노출시켜야 하는 IEC의 자외선 전처리 시험(1) 요구사항을 초과하는 것이다. 그러나 우리의 실험에서는 샘플 온도를 제어하지 않지만 IEC 테스트는 샘플 온도를 60 ±5°C로 유지할 것을 요구한다.

두 번째 노출은 IEEE의 내습내열성 시험(3) 및 UL과 IEC의 고온가습 - 동결 시험 요소 중 내습내열성 부분과 상대습도 및 온도 요구사항이 동일하다(1), (2). 노출 지속 시간은 적합성 평가 시험에서 요구하는 시간을 초과한다(예 : 1,000시간(3) 또는 20시간씩 10번 순환(1)).

세 번째 노출은 대표적인 표준 열화 조건은 아니지만 호주국립대학교(ANU)에서 사용하고 있는 엄격한 신뢰성 시험이다(14).

모든 샘플이 봉지재로 PV 모듈 내에서 받을 수 있는 이상으로 자외선을 증폭시킬, 석영-봉지재-석영 구조로 구성된다.

각각의 노출에 대해 EVA 및 세 가지 실리콘의 a(l)를 시간의 함수로 모니터링 한다. 다우코닝에서 제작한 실리콘은 높은 광투과와 환경적인 안전성 때문에 EVA의 유망한 대안이 되고 있다(9), (10).

샘플 제작

실험용 실리콘을 제작했으며, 본 기사는 201, 203 및 205라 부른다. 실리콘 201은 폴리디메틸실록산(PDMS)으로 수많은 산업에서 흔히 사용되는 실리콘이다. 실리콘 203과 205는 다우코닝의 독점 배합으로 PDMS에 비해 굴절률이 더 높은 실리콘이다. 실험에는 주요 EVA 공급업체에서 입수한 전통적인 EVA도 포함된다. 또 다른 연구에서는 이들 재료들의 광학적 특성을 측정해 비교했다(10).

그림 1은 가속열화시험을 받는 샘플의 구조를 묘사하고 있다. 이들 시험을 위해, 두 개의 석영 시트 사이에 봉지재를 넣어 싸는데 이렇게 하면 석영으로부터는 씻겨 나오나 봉지재로부터는 씻겨지지 않는 먼지나 다른 입자들로부터 보호환경을 제공할 수 있다. 또한 석영은 표면에 광택이 있어 입사광을 적게 산란하기 때문에 더 정확한 광학적 측정이 가능하다.

각 샘플의 봉지재 두께가 표 1에 나와 있다. 봉지재는 통상적인 모듈(~0.45mm)에서 사용하는 것보다 두꺼운데, 특히 여러 겹의 EVA 라미네이트 시트로 구성되는 EVA 샘플의 경우 그러하다. 봉지재는 더 정확한 a(l)를 얻기 위해 일부러 두껍게 제작했다. 별도의 85/85 연구에서 1.6mm 두께의 EVA 샘플로 유사한 결과를 얻었다(13).

우리는 본 실험이 모듈적합성 표준을 그대로 따라하는 것이 아님을 강조한다. 우리는 정확한 절차를 따르거나 완벽한 모듈(좀 더 비용이 드는 절차)을 사용하지는 않는다. 대신 우리는 엄격한 시험조건에서 관찰되는 봉지재간의 상대적 차이점에 초점을 맞춘다. 입사광의 자외선 부분이 어떤 위에 덮고 있는 물질(태양광 모듈의 유리 등)에서 흡수되지 않고, 봉지재가 평소보다 더 두껍기 때문에 시험은 엄격하다.

측정           

봉지재의 흡수계수 a(l)는 Varian Cary 5000 분광광도계를 사용해 샘플의 반구 투과와 반사를 측정하고 부록(11)에 설명한 방법대로 그 결과를 분석함으로써 파장의 함수로 결정되었다. 이 분석은 샘플들이 비산란성, 반투명성, 단층이라고 가정한다.

비록 석영-봉지재-석영 샘플이 1개가 아닌 3개의 층으로 되어 있더라도 우리는 이 방법으로 여전히 봉지재의 a(l)를 정확히 측정할 수 있다고 믿는다. 이 방법에서는 다음 사항들이 무시할 만한 것이어야 한다. 첫째, 석영내 흡수, 둘째, 석영-봉지재 계면에서의 반사, 그리고 셋째, 봉지재 내부나 계면에서의 산란.

이러한 요구사항에 대해 더 자세히 논하기 전에, 우리는 그림 2에 표시된 것처럼 단층 실리콘 샘플(S1 및 S2)로부터 결정한 a(l)를 석영-실리콘-석영 샌드위치 구조(QSQ1 및 QSQ2)의 흡수계수와 비교했다. 그림 2는 a > 0.1cm-1일 때, S 및 QSQ 샘플의 a(l)가 거의 동일한 것을 보여준다. 프로젝트 과정에서 측정한 많은 S 및 QSQ 샘플 그리고 모든 실리콘 배합에 대해 이와 같은 일관성을 관찰할 수 있었다. 250~300nm 범위에서 실리콘 201에 대해 종종 이러한 결론에 대한 한 가지 예외가 발생한다. 일부 샘플은 어깨가 나타나는 반면 다른 샘플은 그렇지 않다. 이러한 예외는 그림 2에서 뚜렷하게 나타난다. 어깨가 나타나는 이유는 현재 알려져 있지 않다. 따라서 그림 2의 결과는 a > 0.01cm-1일 때 요구사항 세 가지가 모두 충족됨을 제시한다.

첫 번째 요구사항은 단층의 연마된 석영(Q)의 a(l)를 측정해 추가로 입증되며 이것 또한 그림 2에 표시했다. 그림은 실험의 정확성에 석영의 a(l)는 l > 280nm에서 무시할 만하며, l < 280nm의 단층 샘플 a(l)보다 한 자릿수 작음을 보여준다. QSQ 샘플에 대한 계산에서 석영에서의 흡수는 무시할 수 있음을 의미한다. 이로써 다른 연마된 석영 샘플의 a(l)도 동일한 측정값을 갖는다는 것을 알게 되었다.

두 번째 요구사항은 석영-봉지재 접촉면에서 반사를 표시한 그림 3을 통해 추가로 입증된다. 이 값들은 굴절률 n(l)(10) 측정값을 프레넬(Fresnel) 방정식으로 계산해 얻었다.

그림 3은 실리콘 205를 제외하고 내부 접촉면에서의 반사가 0.05% 미만임을 보여준다. 이것은 너무 작아서 a(l)의 결정에 영향을 미치지 않는다. 석영-205 접촉면의 반사는 약간 더 크며, a(l) 계산에 작은 오차를 일으킬 수 있다. 이러한 결론에는 석영-봉지재 접촉면이 이상적이라는 전제를 바탕으로 한다(예 : 기포를 전혀 포함하지 않음).

0.1cm-1 아래의 a(l) 변동은 요구사항 세 번째가 입증되지 않은 결과라고 믿는다. 낮은 a(l) 영역(즉, 흡수 피크 사이)의 이러한 변동은, 자립형이든 석영에 싸여 있든 모든 봉지재에서 발생했다. 프로젝트 과정에서 관찰한 최대 불일치를 표시한 그림 2에서 보듯이 낮은 a(l) 영역의 변화는 실리콘의 경우 근소했으나 EVA의 경우는 컸다(한 자릿수 이상).

a(l)의 변동을 일으키는 가장 가능성 높은 원인은 물분자의 산란이며, EVA의 경우, EVA의 포장에서 유래한 종이질의 오염물 때문이다. 산란은 일부 광선이 적분구(Integrating Sphere)로 들어가지 않고 샘플에서 빠져나오도록 해, 반사 및 투과 측정을 방해한다. 새어 나온 광선은 반사 또는 투과로 기록되지 않고, 흡수된 것으로 잘못 간주된다. a(l) 측정 시 수분의 역할은 섹션 5에서 좀 더 명백히 규명할 것이며, 또 다른 연구 결과(13)를 통해서도 추가로 입증할 것이다.

우리는 산란이 무시할 수 있을 정도일 때 두 개의 석영층 안에 있는 봉지재의 a(l)를 정확히 측정할 수 있다는 결론을 내렸다. 또한 샘플 건조를 수행하지 않을 경우 측정된 a(l)는 내습내열성 시험 결과에서 볼 수 있듯이 산란으로 인해 과대평가될 수 있다(그림 6, 7).

자외선 노출 결과

샘플에 제논 아크 램프를 사용해 실리콘 1,948시간, EVA 1,216시간 자외선을 조사했다. 샘플에 입사되는 조명의 스펙트럼 조사강도를 측정하고 그림 4의 AM1 -5g 스펙트럼과 비교했다.

그림 4는 아크 램프의 자외선 조사강도가 더 높더라도 두 가지 스펙트럼이 유사한 것을 보여준다. 표 2는 가속시험 표준에 따라 사용된 파장 범위 내에서 자외선 조사량을 출력 단위로 정량화했다. 또한 모든 정의에 따라 실리콘 샘플에 대한 노출은 모든 자외선 요구사항을 초과하며 EVA에 대한 노출은 세 가지 요구사항 중 두 가지를 충족함을 보여준다.

그림 5는 제논 아크 램프에 다양하게 노출시킨 전후, 4가지 봉지재의 a(l)를 표시한 것이다. 이 그림에서 실리콘 201 또는 EVA의 a(l)는 증가하지 않았음을 보여준다. 특히 EVA의 경우, a(l)의 초기 감소가 존재한다. 우리는 이러한 감소가, 측정하는 동안 물분자의 산란을 줄여 주는, 노출시킨 샘플의 건조 때문으로 생각한다. 따라서 a(l)의 감소가 a(l)의 실제적 변화라기보다는 실험에서 인위적 요인으로 발생한 것이라는 의심을 하게 된다. 수분의 역할은 내열내습 노출에 대해 논의하는 동안 좀 더 분명해질 것이다.

그림 5는 제논 램프에 노출시켰을 때 실리콘 203 및 205가 열화되는 것을 보여준다. 이러한 a(l)의 변화는, 샘플의 심각한 황변으로, 육안으로도 뚜렷하게 나타난다. 우리는 이러한 열화가 203 및 205의 화학적 조성과 연관된 270nm에서의 흡수 피크와 관련이 있다고 믿는다. 또한 이러한 조성은 극성을 증가시켜 수분을 잡는 경향을 증가시키는 것으로 생각된다. 이러한 현상은 다음 섹션에서 명확해진다. 이러한 결과들은 높은 굴절률을 갖는 다른 실리콘들이 자외선 조사에 더 우수한 안정성을 나타낼 것을 배제하지 않는다.

다우코닝에서 수행한 유사 실험에서 우리는 동일한 결과에 도달했다. 다시 말해 실리콘 201과 EVA는 자외선을 조사했을 때 안정적인 반면 실리콘 203과 205는 유사한 정도로 열화되었다. 그러나 이번 경우 샘플 온도는 약 60°C로 유지했으며 조명원은 1Wm-2 nm-1로 설정한 UVA 340 형광 전구를 사용하는 Atlas UV2000이었다(그림 4).

내습내열 노출 결과

그림 6은 내습내열(DH) 노출 결과를 표시한 것이다. 이것은 모든 봉지재에 대해 계산한 a(l)가 내습내열(DH) 노출 시 증가하며 특히 실리콘 205 및 EVA의 흡수계수가 증가함을 보여준다.

내습내열 (DH)이 봉지재에 수분을 이입해 뿌옇게 만드는 것을 뚜렷이 관찰했다. 따라서 a(l) 계산값의 증가는 a(l)의 실질적인 증가라기보다, 적어도 부분적으로는 수분에 의한 산란 때문일 수 있다. 다른 간행물(13)에 제시된 것처럼 선택 투과 및 반구 투과의 비교가 이러한 결론을 뒷받침한다.

대기조건에 두었을 때, 먼저 샘플 가장자리부터 뿌연 것이 없어지면서 수분이 서서히 사라졌다. 실리콘 201에서는 이틀 만에 뿌연 것이 완전히 사라졌으며 실리콘 203에서는 1주일 만에 사라졌다. 실리콘 205와 EVA에서는 한 달 후에도 부분적으로 뿌연 부분이 남아 있었다. 따라서 우리는 모든 샘플에서 뿌연 부분이 사라질 때까지 샘플들을 70°C 오븐에서 1주일간 건조시켰다.

그림 6의 붉은색 선은 샘플이 건조된 후 a(l)를 표시한 것이다. 이 선을 검은색 선(내습내열성 시험 전)과 비교하면 내습내열(DH) 노출로 인한 a(l)의 변화를 가장 잘 볼 수 있다. 그림 6은 모든 봉지재가 열화된 것을 보여준다.

한 가지 흥미로운 관찰은 250nm에서 시작해 ~700nm까지 계속되는 어깨가 실리콘 201에 나타난 것이다.

이것은 201 샘플이 약간 황변함으로써 증명된다.

어깨는 EVA 흡수 스펙트럼에서도 400nm에서 시작되어 나타난다. 이러한 변화는 EVA의 황변으로 입증된다(두께에 따라 악화됨). 안타깝게도 내습내열(DH) 노출 전에 샘플을 동일한 정도로 건조시키지 않았으므로 내습내열(DH) 이전 a(l)는 흡수 피크들 사이에서 인위적으로 높은 값이 나온 것으로 보인다. 따라서 우리는 내습내열(DH)에 노출시키지 않은 건조된 EVA의 a(l)를 표시했다(이것은 참고문헌(10)에서 광선 추적을 위해 사용한 데이터였다). 따라서 우리는 내습내열(DH)이 EVA의 a(l)를 실질적으로 증가시킨다는 결론을 내릴 수 있다.

그림 7은 실리콘 201과 EVA에 대해 내습내열(DH) 노출 전후 결과를 비교한 것이다. 이 때, 내습내열(DH) 노출 후 샘플은 건조시켜 수증기로 인한 산란을 제거했다. 노출 전과 후, 실리콘 201의 a(l)가 EVA에 비해 광학적으로 더 우수한 것으로 나타났다. PV 모듈에 대한 이러한 장점을 정량화하기 위해 우리는 광선 추적기와 참고문헌(10)에 설명된 절차를 적용했다.

표 3은 스크린 인쇄형 다결정(A형), 스크린 인쇄형 단결정(B형) 및 후방 접촉 단결정(C형) 세 가지 유형의 셀로 제조한 모듈의 내습내열 후 a(l)로 내습내열 전 a(l)를 대체해 얻은 단락 전류밀도 JSC를 실었다. 세부 내용은 참고문헌(10)에 수록했다. 그 결과 내습내열 후 열화가 나타났으며, 실리콘(Si) 모듈에서 EVA를 실리콘 201(PDMS)로 대체함으로써 0.8~1.3%의 상대적 효율상승을 기대할 수 있다. 또한 굴절률이 더 높은 실리콘에 대해서는 여전히 더 많은 개선 가능성을 기대할 수 있다. 그러나 광선 추적기는 산란이 없다고 가정하므로 이러한 결과들은 실제 JSC의 상한에 있다는 점을 주의해야 한다. EVA 및 실리콘 205가 수분을 흡수하는 경향이 있다고 전제하면 모델링한 JSC는 실리콘 201 또는 203의 JSC보다 크게 과대평가된 것이다.

우리는 근본 원인은 파악되지 않았으나 내습내열 노출시 모든 봉지재의 흡수계수가 증가한다는 결론을 내렸다. 이것은 EVA에서 현저하나 실리콘 샘플에서도 관찰되었다. 더 나아가, EVA는 실리콘에 비해 수분 흡수 능력이 더 큰 것으로 판단되었다. 이 수분이 흡수를 증가시키지는 않을 수 있으나, 입사 광선을 산란시켜 투과를 줄이고 a(l)의 결정을 복잡하게 만든다. 다우코닝에서도 병행한 실험에서 매우 유사한 결과가 나와 동일한 결론을 내리게 되었다. 이 실험은 또 다른 연구(13)의 주제이다.

30배 집속 결과

샘플을 30배 집광추적기에 6개월 동안 설치했다. 그림 8은 다양한 기간 후 이 샘플의 a(l)를 표시한 것이다. 30배 집광추적기는 모든 입사 광선이 먼저 은도금된 유리 거울에서 반사되기 때문에 자외선 함량은 적지만, 고집속으로 인해 상당한 노출을 제공한다.

그림 8은 세 종류의 실리콘 모두 경미하거나 온건한 열화를 보이면서, 고집속을 견디는 것을 보여준다. 6개월 후 이 세 종류의 실리콘 모두 대부분의 스펙트럼에 대해 99% 이상의 투과율을 보였다.

EVA의 경우는 달랐다. 그림에서 처음 6주간은 a(l)가 점점 증가하다가 EVA 샘플이 검게 타들어가고 집광추적기에서 제거된 것을 보여준다. PVB 샘플은 2일 내에 타들어갔다.

테스트한 봉지재 중에서 ANU의 30배 집광추적기에 유일하게 적합한 재료는 실리콘임이 분명하다. 우리는 맑은 날 정오에 측정한 실리콘 샘플 온도가 30~40°C인 것에 주목한다.

수분으로 인한 산란도 고려해야

4종류의 봉지재를 자외선, 내습내열 및 30배 집속 광선에 노출시켰다. 실리콘 201(PDMS)은 모든 테스트를 잘 견뎌냈고 수분을 흡수하는 경향이 가장 낮았다. 더 높은 굴절률을 갖도록 특수 제조된 실리콘 203 및 205는 자외선 노출 시 열화되었으나 다른 노출은 견뎌냈다. 자외선 노출을 견딘 EVA는 내습내열 노출시 부분 열화되었으며, 30배 집속 광선에 의해 폐기되었다. 또한 EVA는 수분을 흡수하는 경향이 가장 컸다. 이번 연구와 이전의 연구(10)에서 우리가 여러 가지 재료들의 실제 굴절률과 흡수계수 및 모듈 성능에 미치는 그 파급 영향을 비교하면서, 이제는 수분으로 인한 산란도 고려해야 하는 것이 명백해졌다.

감사의 말

제논 아크 램프 챔버의 스펙트럼 측정 및 분석에 도움을 주신 리클린 블랙(Lachlan Black)께 감사드린다. 또 다우코닝에서 분광광도계 측정에 도움을 주신 웨스톤 툴로크(Weston Tulloch)께도 감사드린다.

참고문헌

(1) IEC 61215, “Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules-Design qualification and type approval”.

(2) UL 1703, “Flat-plate photovoltaic modules and panels”, Underwriters Laboratory Inc., Northbrook, IL, U.S.A.

(3) IEEE 1262, “IEEE Recommended Practice for Qualification of Photovoltaic (PV) Modules”, The Institute of Electrical and Electronics Engineers, New York, NY, USA

(4) F.J. Pern and S.H. Glick, “Improved photostability of NREL-developed EVA pottant formulations for PV module encapsulation”, Proc. 26th IEEE PVSC, Anaheim, pp. 1089-1095, 1997.

(5) W.H. Holley, S.C. Agro, J.P. Galica and R.S. Yorgensen, “UV Stability and module testing of non-browning experimental PV encapsulants”, Proc. 25th IEEE PVSC, Washington D.C., pp. 1259-1262, 1996.

(6) M.D. Kempe, “Accelerated UV test methods and selection criteria for encapsulants of photovoltaic modules”, Proc. 33rd IEEE PVSC, San Diego, 2008.

(7) M.D. Kempe, G.J. Jorgensen, K.M. Terwilliger, T.J. McMahon, C.E. Kennedy and T.T. Borek, “Acetic acid production and glass transition concerns with ethylene-vinyl acetate used in photovoltaic devices”, Solar Energy Materials and Solar Cells 91: 315-329 (2007).

(8) S. Ohl and G. Hahn, “Increased internal quantum efficiency of encapsulated solar cells by using two-component silicone as encapsulant material”, Proc. 23rd EU PVSEC, Valencia, 2008.

(9) B. Ketola, K.R. McIntosh, A. Norris, M.K. Tomalia, “Silicones for photovoltaic encap-sulation”, Proc. 23rd EU PVSEC, Valencia, 2008.

(10) K.R. McIntosh, J.N. Cotsell, J. Cumpston, A.W. Norris, N.E. Powell and B.M. Ketola, “Optical modeling results comparing silicone and EVA photovoltaic encapsulants”, Proc. 34th IEEE PVSC, Philadelphia, 2009.

(11) K.R. McIntosh, G. Lau, J.N. Cotsell, K. Hanton, D.L. B-tzner, F. Bettiol and B.S. Richards, “Increase in external quantum efficiency of encapsulated silicon solar cells from a luminescent down-shifting layer”, Progress in

Photovoltaics, 17, pp. 191-197, 2009.

(12) M.D. Kempe, M. Kilkenny, T.J. Moricone and J.Z. Zhang, “Accelerated stress testing of hydrocarbon-based encapsulants for medium CPV applications”, 34th IEEE PVSC, Philadelphia (2009).

(13) K.R. McIntosh, J.N. Cotsell, A.W. Norris, N.E. Powell and B.M. Ketola, “The stability of silicone and EVA encapsulants under accelerated UV and damp-heat tests,” submitted to Solar Energy Materials and Solar Cells, 2009.

(14) 집광추적기 참고문헌

본 기사에서 제공하는 내용은 신뢰할 수 있으며 내용의 정확성을 기하고 있다. 그러나 당사의 제품을 사용하는 조건과 방법에 따라 그 결과가 다를 수 있으므로, 본 정보는 다우코닝 제품의 안전성, 효율성 및 고객이 의도한 최종 사용 용도에 대한 적합성을 확인하는 고객의 테스트를 대체할 수 없음을 알려드린다.

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