로데슈바르즈, AESA 레이더 측정 위한 초정밀 테스트 제품군 선봬
  • 최정훈 기자
  • 승인 2020.10.27 08:00
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복잡한 테스트 절차 대폭 간소화, 측정 케이블 결합 최소화

[인더스트리뉴스 최정훈 기자] 로데슈바르즈(Rohde & Schwarz)는 높은 정밀도를 갖춘 측정기기와 복잡한 테스트 시나리오의 자동화를 통해 AESA(Active Electronically Scanned Array) 레이더 설계 성능을 극대화할 수 있는 솔루션 제품을 출시했다. 

최신 AESA레이더는 전세계 항공우주 및 방위 산업에서 주로 쓰이는 기술이다. 최첨단 AESA 레이더 시스템의 성능은 안테나 어레이에 조립된 개별 TRM(Transmit- Receive-Module)에 의해 좌우된다. 로데슈바르즈(Rohde & Schwarz)는 TRM 성능 검증을 위한 새로운 테스트 및 측정 솔루션을 선보이며 이용자들이 레이더 시스템의 기능을 극대화 하는데 일조하겠다는 방침이다.

 

PI AESA testing 솔루션 [사진=로데슈바르즈]
PI AESA testing 솔루션 [사진=로데슈바르즈]

통상적인 TRM 테스트 요구사항들은 로데슈바르즈의 ZNA와 같은 단일 네트워크 분석기로 해결 가능하다. 펄스 잡음 지수 측정과 같이 더 높은 성능이 요구될 경우 R&S FSW 신호 및 스펙트럼 분석기를 추가해 측정 한다. Calibration에 있어 측정 셋업은 간편하고, 완벽한 정확성과 높은 재현성을 보장한다. 사용자는 복잡한 테스트 절차를 대폭 간소화하고, 측정에 필요한 케이블 결합을 최소화할 수 있다.

R&S TS6 TRM 테스트 라이브러리는 고속 제어 전환 및 최고의 측정 속도를 구현할 수 있도록 로데슈바르즈의 테스트 장비를 최적화한다. 고속 주파수 스윕(Frequency Sweep) 기능과 하나의 펄스에서 가능한 다중 측정 기능으로 TRM State 변경 요구 사항을 줄일 수 있으며, 이를 통해 전체 테스트 시간을 최소화할 수 있다. 또한 R&S ZVAX-TRM 유닛 적용 시, 포트 멀티 플렉싱을 포함한 모든 테스트의 완전한 자동화가 가능하다.

특히, R&S TS6 TRM 테스트 라이브러리의 Calibration Routine의 기능이 눈길을 끈다. 이 기능은 테스트에서 필요한 모든 Calibration 요건을 수집하고, 최적화된 고정밀 Calibration을 수행한다. Multiport Calibration Unit을 지원하므로 다중 포트를 적용한 DUT(Device Under Test, 테스트 대상 기기)의 효율적인 Calibration이 가능하다. 간단한 테스트 설정 및 높은 수준의 자동화 기능을 접목한 확장 가능 솔루션으로 안정적이고 재현 가능한 측정을 보장하기 때문에 컴포넌트에 대한 수동 테스트에서부터 모듈 특성화 및 자동 생산 테스트 등 다양한 환경에서도 정확하게 측정 업무를 수행할 수 있다.

한편, 로데슈바르즈는 측정 시간을 절감할 수 있도록 생산 과정에서 병렬 구동 시스템의 수를 줄일 수 있는 효율적인 솔루션을 개발했다. R&S TS6 TRM 테스트 라이브러리와 R&S TS6710 TRM 레이더 테스트 시스템의 조합으로, 측정과 DUT 프로그래밍 간 초고속 전환 등 TRM 테스트의 가장 빠른 측정 속도 구현이 가능해 진다. 결과적으로 기존에는 몇 시간 단위의 긴 측정 시간이 필요했던 전체 TRM 특성화를 로데슈바르즈의 TRM 시스템을 적용하여 단 몇 분만으로 완료할 수 있게 된다.

일반적으로 TRM 설계 시에 적용되는 다양한 변수는 레이더에 따라 다르며, 대외비로 간주된다. 또한 각 TRM은 테스트를 위한 특정 인터페이스와 프로토콜 및 IO로 제어돼야 한다. R&S TS6 TRM 테스트 라이브러리는 TRM 제어를 위한 개방형 소프트웨어 인터페이스를 갖추고 있으며, 이를 통해 전체 테스트 구성을 측정 기기 단위에서 수행할 수 있다. 이는 더욱 신속한 현장 적용 및 최적화를 가능케 한다. R&S Compact TSVP 테스트 시스템 옵션은 효율적이고 유연하며 빠른 제어 인터페이스와 디지털 및 아날로그 측정을 지원하는 다기능 플랫폼으로 활용이 가능하다. 이러한 구성은 FPGA(Field-Programming Gate Array)를 프로그램할 필요 없이 직관적인 설정으로 매우 짧은 테스트 시간을 달성할 수 있다.
 



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